MOP089 　ビーム診断・ビーム制御　 8月8日 コンベンションホール 13:10 - 15:10

TIARAにおける蛍光体を用いた リアルタイムビーム分布計測システムの特性評価

Characterization of the real-time beam profile measurement system using fluorescent sheets at TIARA facility

○湯山 貴裕，百合 庸介，石坂 知久，石堀 郁夫，奥村 進（量研機構　高崎研）

○Takahiro Yuyama, Yosuke Yuri, Tomohisa Ishizaka, Ikuo Ishibori, Susumu Okumura (QST/Takasaki)

量子科学技術研究開発機構高崎量子応用研究所TIARAのAVFサイクロトロンでは、多重極電磁石を用いた大面積均一照射システムによる、均一ビーム形成技術の開発を進めている。この均一ビームを円滑に利用するため、ビーム形成中に横方向ビーム分布が評価可能な、蛍光体を用いたリアルタイムビーム分布計測システムを開発した。この計測システムを用いたビーム形成の信頼性を高めるために、10 MeV 陽子ビームと520 MeV アルゴンビームに関して、本システムを用いて計測し、その特性を評価したので報告する。 システムの評価を実施するにあたり、残光が短く発光量が多いGd2O2S:Tb ( DRZ：三菱化学製 )蛍光体を使用した。大面積均一照射により均一化したビームと、AVFサイクロトロンの入射ラインに設置されているパルス波を用いたビームチョッパーにより、フルエンス率は任意に調整可能である。この均一ビームによる発光を、本計測システムを用いて2次元画像として取得し、照射野に関する輝度データを解析することで、入射フルエンス率に対するpixelあたりの発光輝度値の特性を評価した。 これにより、陽子ビーム及び、アルゴンビーム共に線形応答性を持つフルエンス率領域を確認することが出来、重イオン、軽イオン問わず、実用に足る、計測の再現性及び利用可能なフルエンス領域を持つことが確認出来た。