MOP124 　加速器応用・産業利用　 8月8日 コンベンションホール 13:10 - 15:10

重粒子線スキャニング照射におけるイオン再結合補正法の検証

Experimental verification of gain drop due to general ion recombination for a carbon-ion pencil beam

○丹正 亮平，古川 卓司，原 洋介，水島 康太，早乙女 直也，皿谷 有一，白井 敏之，野田 耕司（放医研）

○Ryohei Tansho, Takuji Furukawa, Yousuke Hara, Kota Mizushima, Naoya Saotome, Yuichi Saraya, Toshiyuki Shirai, Koji Noda (NIRS)

重粒子線治療において、患者への投与線量の精度を担保するためには、電離箱線量計内での一般イオン再結合による利得損失を正確に補正する必要がある。この利得損失の大きさは、Boagの理論から計算できるが、Boagの理論は電離箱中で生成される電荷の空間分布を均一と仮定している。これに対して、スキャニング照射法を使った重粒子線治療においては、走査される1本のペンシルビームの強度分布が不均一であるために、この仮定の違いが補正の精度を悪化させる。本研究では、電離箱中の電荷分布を考慮した一般イオン再結合の補正計算法を提案し、治療ビームを使って実験的に検証した。本発表では、検証結果および本研究による補正法の有用性を示す。